產(chǎn)

品

簡

介

756/756PC系列紫外可見分光光度計是我公司生產(chǎn)的自動波長/自動掃描型紫外可見分光光度

計系列產(chǎn)品。756系列紫外可見分光光度計，以全新的設(shè)計理念，博采眾家之長。充滿

現(xiàn)代化氣息的外形設(shè)計，**的數(shù)據(jù)處理和控制功能為該儀器鮮明的特色。廣泛應(yīng)用

于廠礦，衛(wèi)生、學(xué)校、環(huán)保及科研實驗室等。我們的目標(biāo)位廣大用戶提供高品質(zhì)的分

析儀器。

產(chǎn)

品

特

點

精心設(shè)計的單色器和1200條/mm高質(zhì)量全光柵，具有雜色低，單色性好的特點。

更窄的光譜帶寬可以更**的測量，更適用于醫(yī)藥領(lǐng)域。

四種測量模式，T、A、C、斜率法，使操作更加簡便。

LCD液晶顯示讀數(shù)方便，大樣品室可使功能擴展。

756，自動波長定位使得測量更加準(zhǔn)確快捷。

756PC，配合掃描軟件，能實現(xiàn)光譜掃描、光度掃描、時間掃描、定量掃描等功能及各

種復(fù)雜的數(shù)據(jù)處理。

光

學(xué)

性

能

光度方式：透過率、吸光率、濃度

光度范圍：0-200%T，-0.301-1.999A/0-3A，1-1999C/0-9999C

光度精度：≤±0.3%T

光度重復(fù)性：0.3%T

穩(wěn)定性：±0.002/小時（500nm處、預(yù)熱1小時，限756PC）

基線平直度：±0.002A

光

譜

掃

描

全程（195nm~1100nm）自動掃描，掃描光譜波長任意設(shè)定。

掃描波長間隔0.1nm、0.2nm、0.5nm、1nm、2nm可選

T、A、E模式

重復(fù)掃描次數(shù)、坐標(biāo)參數(shù)設(shè)定

光譜曲線峰、谷值檢出

曲線平滑、微分、積分和算術(shù)計算等數(shù)據(jù)處理

完善的數(shù)據(jù)存儲、導(dǎo)出和打印機制